産業技術総合研究所(産総研)は6月26日、放射光X線から作り出された「虹色X線」(波長分散集束X線)を用いて、X線散乱とX線吸収スペクトルを同時かつ高速に計測する技術を開発し、ナノ材料の機能を左右するナノスケール構造(粒子のサイズと形状)、および原子スケール構造(原子間距離、配位数、化学状態)の情報を同時に得ることに成功したと発表した。 同成果は、産総研 物質計測標準研究部門 ナノ材料構造分析研究 …
産業技術総合研究所(産総研)は6月26日、放射光X線から作り出された「虹色X線」(波長分散集束X線)を用いて、X線散乱とX線吸収スペクトルを同時かつ高速に計測する技術を開発し、ナノ材料の機能を左右するナノスケール構造(粒子のサイズと形状)、および原子スケール構造(原子間距離、配位数、化学状態)の情報を同時に得ることに成功したと発表した。 同成果は、産総研 物質計測標準研究部門 ナノ材料構造分析研究 …