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日立ハイテクは2024年6月10日、走査型プローブ顕微鏡システム「AFM(原子間力顕微鏡)5500MII」を発売すると発表した。複数の解析装置で同一の試料を観察する際の観察精度や操作性が向上している。 走査型プローブ顕微鏡システム「AFM5500MII」 出所:日立ハイテク AFMは、プローブ(探針)で試料の表面を走査し、ナノレベルでの表面の形状観察と物性マッピング評価を同時に実行可能な計測分析装 …