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製品の不良や欠陥を高い精度で識別し分類 東芝は2024年5月、製造現場などにおいて製品の不良や欠陥を高い精度で分類できる「教師なし画像分類AI」を開発したと発表した。これを用い、ベンチマーク画像に対する分類精度が、これまでの27.6%から83.0%へ大幅に向上することを確認した。 製造現場の検査工程では、生産ラインで取得した画像データの中から、製品の不良や欠陥の発生状況をいち早く発見して、生産性を …