日立製作所、九州大学(九大)、理化学研究所(理研)、HREMの4者は7月4日、電子線ホログラフィーの精度向上と撮像後にピントを自動補正する技術を開発し、日立の原子分解能・ホログラフィー電子顕微鏡を用いて、磁性多層膜などの構造や組成が不均一な試料(不均一試料)の磁場観察を可能にする手法を開発。0.47nm分解能で、格子面それぞれの磁場観察に成功したと発表した。 同成果は、日立、九大、理研、HREMに …
日立製作所、九州大学(九大)、理化学研究所(理研)、HREMの4者は7月4日、電子線ホログラフィーの精度向上と撮像後にピントを自動補正する技術を開発し、日立の原子分解能・ホログラフィー電子顕微鏡を用いて、磁性多層膜などの構造や組成が不均一な試料(不均一試料)の磁場観察を可能にする手法を開発。0.47nm分解能で、格子面それぞれの磁場観察に成功したと発表した。 同成果は、日立、九大、理研、HREMに …